“X荧光光谱测厚仪Thick 600”参数说明
类别: |
X射线测厚仪 |
测量产品: |
镀层 |
显示方式: |
数字显示 |
型号: |
thick 600 |
规格: |
thick 600 |
“X荧光光谱测厚仪Thick 600”详细介绍
基本介绍应用领域:广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。性能特点长效稳定X铜光管半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷采用信噪比增强器(SNE)内置高清晰摄像头,方便用户随时观测样品脉冲处理器,数据处理快速准确手动开关样品腔,操作安全方便三重安全保护模式整体钢架结构、外型高贵时尚FP软件,无标准样品时亦可测量。技术参数型号:THICK600分析范围:Ti-U,可分析最高3层15个元素分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)分析精度:多次测量稳定性可达1%.工作电压:AC110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)测量时间:40秒(可根据实际情况调整)探测器分辨率:(160±5)eV光管高压:5-50kV管流:50μA-1000μA环境温度:15℃-30℃环境湿度:30%-70%准直器:配置不同直径准直孔,最小孔径φ0.2mm仪器尺寸:610(L)x355(W)x380(H)mm仪器重量:30kg使用说明Think600是集多年镀层测厚检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计使测试工作更加轻松完成。Think600镀层测厚仪使用高效而实用的正比计数盒和电制冷探测器,以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求,且全新的更具有现代感的外形、结构及色彩设计,使仪器操作更人性化、更方便。采购须知