“镀层测厚仪Thick 800A荧光光谱测厚仪”参数说明
类别: |
X射线测厚仪 |
测量产品: |
镀层 |
显示方式: |
数字显示 |
型号: |
Thick 800A |
规格: |
Thick 800A |
“镀层测厚仪Thick 800A荧光光谱测厚仪”详细介绍
基本介绍Thick800A是专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。应用领域:黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测。金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自动定位测试高度定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点高分辨率探头使分析结果更加精准良好的射线屏蔽作用测试口高度敏感性传感器保护技术参数型号:Thick800A元素分析范围从*(S)到*(U)。同时可以分析30种以上元素,五层镀层。分析检出限可达2ppm,最薄可测试0.005μm。分析含量一般为ppm到99.9%。镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)任意多个可选择的分析和识别模型。相互独立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序多次测量重复性可达0.1%长期工作稳定性可达0.1%温度适应范围为15℃至30℃。电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源。外观尺寸:576(W)×495(D)×545(H)mm样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H)mm重量:90kg使用说明标准配置:开放式样品腔。精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。双激光定位装置。铅玻璃屏蔽罩。Si-Pin探测器。信号检测电子电路。高低压电源。X光管。高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机采购须知